在便攜式醫(yī)療設(shè)備應(yīng)用中鐵電存儲器FRAM的關(guān)鍵優(yōu)勢
2021-05-07 09:25:11
隨著技術(shù)的不斷進步,消費類、便攜式醫(yī)療設(shè)備的功能越來越強大,越來越完善,極大地提高了準確性、可靠性、連接性和易用性,同時保證了用戶健康信息的安全性,價格也合理。
這些全新的高級功能需要更強的處理能力、安全性和連接性。日益增長的復(fù)雜性也要求固件/軟件代碼擴展,反過來不僅增加了代碼,而且還提升了數(shù)據(jù)存儲系統(tǒng)的存儲器需求。這些增強功能,增加了系統(tǒng)的功耗預(yù)算,矛盾的是,緊湊外型的便攜式醫(yī)療設(shè)備要求超長電池壽命,需要降低功耗。
本篇文章富士通FRAM代理商主要介紹的在便攜式醫(yī)療設(shè)備應(yīng)用中鐵電存儲器具有幾大關(guān)鍵優(yōu)勢及FRAM的效率與可靠性
在便攜式醫(yī)療設(shè)備應(yīng)用中,與EEPROM和閃存等其他非易失性存儲器技術(shù)相比,
鐵電存儲器(FRAM)具有以下幾大關(guān)鍵優(yōu)勢:
1、高寫入周期耐久度
EEPROM和閃存寫入周期耐久度有限,而一些醫(yī)療設(shè)備需要可靠地存儲隨時更新的數(shù)據(jù)日志。閃存的耐久度水平為1E+5,EEPROM的耐久度水平是1E+6。相比之下,F(xiàn)RAM的寫入周期耐久度是1E+14(100萬億),高出EEPROM和閃存若干個數(shù)量級。這樣的耐久度使設(shè)備能夠記錄更多的數(shù)據(jù),無需執(zhí)行復(fù)雜的損耗均衡算法,無需提供過多的額外容量。
2、低功耗運行
與閃存或EEPROM等存儲器件相比,
FRAM的工作能耗低幾個數(shù)量級。將它與即時非易失性相結(jié)合,有助于延長電池使用壽命。利用低功耗待機模式,設(shè)計人員能夠進一步優(yōu)化功耗。
3、即時非易失性
即時非易失性是FRAM技術(shù)的另一大重要特征。EEPROM和閃存需要額外的頁面編程/頁面寫入周期,增加了系統(tǒng)寫入操作的時間。FRAM的即時非易失性允許便攜式和植入式醫(yī)療系統(tǒng)以及其它的電池供電系統(tǒng)完全關(guān)閉電源,或更快地將系統(tǒng)切換至低功耗待機模式。工作時間的縮短和工作電流的減小,可顯著延長系統(tǒng)的電池使用壽命。在有精確時序要求的應(yīng)用中,它們還有助于增強數(shù)據(jù)的可靠性,因為它不懼怕電源故障。
4、可靠性提高
可靠性對于醫(yī)療設(shè)備至關(guān)重要。FRAM單元對包括X射線和伽瑪輻射在內(nèi)的各種輻射具有高度的耐受性。FRAM還對磁場免疫,從而確保記錄的數(shù)據(jù)安全可靠。
5、緊湊的外型
FRAM可以采用節(jié)省空間的封裝。例如富士通FRAM密度高達8Mb,采用行業(yè)標準8引腳SOIC封裝和微型8引腳GQFN封裝,吞吐量最高可達50MHz SPI I/O和108MHz QSPI(Quad-SPI)I/O。
高輻射耐受性、數(shù)據(jù)可靠性、低功耗和緊湊的外型這些關(guān)鍵特性,使得FRAM成為便攜式和植入式醫(yī)療設(shè)備的理想選擇。
本文關(guān)鍵詞: FRAM
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